Meu Solid State Disk
se tornou um Super Slim Doorstopper
?
Eu sei que esta é uma pergunta longa, mas tentei torná-la tão elaborativa e informativa quanto possível. Para um tl;dr
simplesmente pule a primeira metade da pergunta, embora eu ache que as informações contidas nele possam ser relevantes para o problema.
O que aconteceu
Primeiro de tudo: eu moro em uma área que está sofrendo de uma enorme onda de calor no momento. A temperatura interna do ar do meu quarto nunca esteve abaixo de 30 ° C em 2-3 semanas. Desde dias nunca esteve abaixo de 34 ° C, nem mesmo no meio da noite. Eu não tenho AC e meu fã faz praticamente nada. A temperatura do meu SSD sensor parece quebrado (sempre relata 5 ° C), meus HDDs estavam em 48 ° C, 54 ° C e 54 ° C praticamente sempre. GPU em torno de 60 ° C e CPU em torno de 52 ° C. Isso não é bom, mas ainda soa tolerável para mim.
Ontem à noite eu estava usando meu PC, Arch Linux em um SSD de 64GB, quando tudo iria congelar. Eu não pude nem mesmo SSH na máquina mais. Então, depois de esperar meia hora na esperança de conseguir pelo menos uma conexão SSH, tive que desligar a energia. Eu gostaria de mencionar também que às vezes meu PC se tornaria muito lento quando eu uso audácia (escreve dados temporários para SSD como audácia parece não suportar sistemas de arquivos NTFS e meu SSD é o único sistema de arquivos não-NTFS eu tenho) e que recentemente Eu encontrei este pergunta falando sobre SSDs ficando mais lentos quando eles enchem. Posso dizer que meu SSD vai para + 95% de espaço usado várias vezes por semana, se não diariamente, devido a muitas gravações de audácia.
Então, depois de desligar o PC eu tentei ligá-lo novamente, na tela da BIOS ele passou por todos os discos e o SSD disse S.M.A.R.T. error
. Depois de iniciar o grub (em outra unidade) e tentar inicializar em arch (partição de inicialização em outra unidade também) recebi a mensagem Device /dev/mapper/mydisk-root not found
, ou algo semelhante. mydisk-root
deve ser a partição raiz dentro do grupo de volumes do meu SSD criptografado LUKS. Então, tentei reiniciar algumas vezes, mas sempre obtive o mesmo resultado, quando acabei desistindo, desliguei o PC (na PSU) e fui dormir.
Próximas ações que realizei
Depois que eu acordei, eu queria inicializar um live Linux do linux para executar uma verificação SMART, veja o dmesg, o que quer que seja. De repente, a BIOS disse S.M.A.R.T. ok
novamente. Eu continuei com o USB ao vivo, onde eu era capaz de desbloquear e montar o SSD como de costume. Consegui realizar um backup completo sem problemas também.
Depois fui fazer um teste SMART. Um teste long
falhou duas vezes em 50%, detalhes abaixo. Um teste short
foi concluído e não vejo nada de ruim nos resultados. O último teste SMART que fiz foi há apenas 2 semanas, era um teste long
(consulte o log de teste) e estava tudo bem.
Pergunta 1: Como brindar é meu SSD?
Esta é a saída da tabela de atributos SMART before
. Experimentei todos os testes, então acho que esses devem ser os resultados do teste long
que fiz há duas semanas:
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
Este é o resultado -a
completo após a tentativa de long
teste hoje, que falhou (consulte o log de teste):
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x80) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 117) The previous self-test completed having
the read element of the test failed.
Total time to complete Offline
data collection: ( 295) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 4) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: ( 3) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 2
ATA Error Count: 0
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 00 08 d0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 c8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 03 08 c0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 10 08 b8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 b0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
Error -1 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 d5 00 d8 13 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 00 d8 12 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 da 00 d8 11 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d0 00 d8 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d1 80 58 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Extended offline Completed: read failure 50% 23891 66387896
# 2 Extended offline Completed: read failure 50% 23889 66387896
# 3 Extended offline Completed without error 00% 23437 -
# 4 Short offline Completed without error 00% 564 -
# 5 Vendor (0xff) Completed without error 00% 558 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Este é o resultado -a
completo após a tentativa de short
test hoje, o que foi bem sucedido:
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x80) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 295) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 4) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: ( 3) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 2
ATA Error Count: 0
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 00 08 d0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 c8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 03 08 c0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 10 08 b8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 b0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
Error -1 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 d5 00 d8 13 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 00 d8 12 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 da 00 d8 11 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d0 00 d8 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d1 80 58 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 23891 -
# 2 Extended offline Completed: read failure 50% 23891 66387896
# 3 Extended offline Completed: read failure 50% 23889 66387896
# 4 Extended offline Completed without error 00% 23437 -
# 5 Short offline Completed without error 00% 564 -
# 6 Vendor (0xff) Completed without error 00% 558 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Acho muito engraçado como todas as três tabelas de atributos são as mesmas. Ou estou faltando alguma coisa aqui? Eu não sou um especialista em SMART, mas de acordo com o meu conhecimento, estes são os três resultados perfeitos. (?) Eu não tentei ainda, mas desde que a montagem e a obtenção dos arquivos funcionaram e o BIOS relata como ok
novamente, eu assumo que eu poderia inicializar novamente também. Devo embora?
Pergunta 2: Por que isso aconteceu?
Isso é simplesmente uma coisa antiga ou meu uso constante de audácia no SSD causou isso?
Tem algo a ver com o SSD constantemente atingindo 90-100% de espaço usado?
Como é possível passar de está tudo bem para Eu não posso mais realizar um teste SMART em apenas duas semanas?
O que esses resultados de testes inteligentes dizem? A tabela de atributos após o teste hoje ainda parece ótima para mim, ou estou errada?
Pergunta 3: Isso é contagioso?
Se este SSD fosse quebrado e eu fosse comprar um novo, eu poderia simplesmente dd if=/old/ssd of=/new/ssd
e ficar bem ou isso causaria problemas? Qual seria a melhor abordagem para mudar para um novo disco? Por favor, note que eu estou usando LUKS em todo o dispositivo no modo RAW com um cabeçalho desanexado, e gostaria de apenas "clonar" tudo isso no novo disco.
Edit: Acabei de iniciar o SSD novamente e parece funcionar. Vou pegar um novo SSD o mais cedo possível, já que eu assumo que usar este é uma má ideia. A seguir estão as últimas entradas no syslos antes do acidente: