Entendendo a saída smartctl para um cartão CF

Question

Estou testando o suporte SMART em alguns cartões Compact Flash. Depois de executar smartctl -A no meu cartão, recebo a saída abaixo (também disponível aqui: link ). A coluna UPDATED diz off-line, alguém sabe exatamente o que isso significa? UPDATE - significa que os dados só são coletados offline.

Além disso, todos os valores parecem estar em seus padrões de 100 (exceto contagem de energia). Alguém sabe como obter o cartão para relatar seus valores? O cartão que estou testando é um ATP AF1GCFI.

Além disso, se eu tentar executar um teste off-line com "smartctl --test = short / dev / sda", recebo "Aviso: o dispositivo não suporta funções de autoteste". Dado o fato de que os parâmetros só podem ser reportados offline, isso significa que não consigo obter nenhum dado SMART?

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART Attributes Data Structure revision number: 1 
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds: 
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE   
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0   
  2 Throughput_Performance  0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0   
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0   
  7 Seek_Error_Rate         0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0   
  8 Seek_Time_Performance   0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0  
 12 Power_Cycle_Count       0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       358 
195 Hardware_ECC_Recovered  0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0 
196 Reallocated_Event_Count 0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0 
197 Current_Pending_Sector  0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0 
198 Offline_Uncorrectable   0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0 
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0 
200 Multi_Zone_Error_Rate   0x0000   100   100   000    Old_age   Offline      -       0

    

Answer 1

A maioria dos campos padrão para dados SMART foi definida com apenas discos rígidos magnéticos rotacionais em mente. Nada disso parece apropriado para o seu cartão CF.

Os fornecedores também podem definir seus próprios atributos e aqueles não são padronizados. O smartmontools é distribuído em um banco de dados (armazenado /var/lib/smartmontools/drivedb/drivedb.h na minha máquina debian.) que define custom / special / overrides para diferentes harddrives do modelo. Você provavelmente terá que inserir detalhes para o seu cartão CF em tal banco de dados.

Se você olhar para o site atpinc.com, verá que pode enviar um e-mail à equipe de vendas para solicitar uma cópia das especificações. O documento de especificações deve listar quais atributos SMART o dispositivo suporta, o que eles estão representando e como interpretá-los.

Além disso, você receberá mais informações SMART se usar -a em vez de -A. Você pode forçar um selftest offline usando smartctl -t offline / dev / XXX e o dispositivo pode suportar testes offline automáticos e periódicos com smartctl -o em / dev / XXX.

Você pode executar um autoteste offline (qualquer um dos autotestes, na verdade) enquanto estiver usando a unidade. O desempenho pode ser afetado, mas você não quebrará nada.

Envie um e-mail para o ATP e peça informações para os documentos.

Boa sorte.

    

Answer 2

Isso se refere ao modo em que o dispositivo estava quando os dados foram coletados. Na página de manual :

Some SMART attribute values are updated only during off-line data collection activities; the rest are updated during normal operation of the device or during both normal operation and off-line testing. The Attribute value table produced by the '-A' option indicates this in the UPDATED column. Attributes of the first type are labeled "Offline" and Attributes of the second type are labeled "Always".